3938型掃描電遷移率粒徑譜儀

更新時間：2024-03-17

簡要描述：

產(chǎn)品詳情

TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。該系統(tǒng)同樣被應用于對液體懸浮顆粒進行精確的納米顆粒粒徑測量。美國國家標準與技術局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對60nm和100nm的標準參考粒徑進行測量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測量是審慎的技術，在該技術方法中計數(shù)濃度會被直接測量而無需假設粒徑

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詳細介紹

特性和優(yōu)點

高分辨率數(shù)據(jù)：高達167通道

1nm到1,000nm的極寬粒徑范圍

符合ISO 15900:2009標準

快速測量：<10s掃描

寬濃度范圍，高達 10 7 顆粒/cm 3

給您zui大靈活度的組件設計

觸摸屏控制無需電腦操作

免工具安裝易于設置，自動發(fā)現(xiàn)組件

審慎的顆粒測量：適合多模樣品

不依賴于粒子和流體的光學性質(zhì)

寬系統(tǒng)配置選項：可選水介質(zhì)或丁醇介質(zhì)凝聚粒子計數(shù)器；可選傳統(tǒng)的或無輻射中和器

應用

納米技術研究和材料合成

大氣研究和環(huán)境檢測

燃燒和發(fā)動機排放研究

室內(nèi)空氣質(zhì)量測量

成核/凝結研究

吸入毒理學研究

包含組件

與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級器

七款凝聚粒子計數(shù)器之一

Aerosol Instrument Manager?氣溶膠儀器管理軟件

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